Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
Сохранить в:
| Главный автор: | Барабаш Т. К. |
|---|---|
| Другие авторы: | Масловская А. Г. |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Опубликовано: |
Благовещенск
АмГУ
2016
|
| Online-ссылка: | https://e.lanbook.com/book/156556 https://e.lanbook.com/img/cover/book/156556.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Схожие документы
-
Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
Автор: Барабаш, Т. К. -
Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
Опубликовано: (2014) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
Автор: Филимонова Н. И.
Опубликовано: (2016) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
Автор: Филимонова, Н. И. -
Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
Автор: Морозова, К. Н.