Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
Uloženo v:
Hlavní autor: | Барабаш Т. К. |
---|---|
Další autoři: | Масловская А. Г. |
Médium: | Книга |
Jazyk: | Russian |
Vydáno: |
Благовещенск
АмГУ
2016
|
On-line přístup: | https://e.lanbook.com/book/156556 https://e.lanbook.com/img/cover/book/156556.jpg |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky
-
Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
Autor: Барабаш, Т. К. -
Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
Vydáno: (2014) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
Autor: Филимонова Н. И.
Vydáno: (2016) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
Autor: Филимонова, Н. И. -
Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
Autor: Морозова, К. Н.