Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
Saved in:
Main Author: | Барабаш Т. К. |
---|---|
Other Authors: | Масловская А. Г. |
Format: | Книга |
Language: | Russian |
Published: |
Благовещенск
АмГУ
2016
|
Online Access: | https://e.lanbook.com/book/156556 https://e.lanbook.com/img/cover/book/156556.jpg |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items
-
Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
by: Барабаш, Т. К. -
Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
Published: (2014) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
by: Филимонова Н. И.
Published: (2016) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
by: Филимонова, Н. И. -
Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
by: Морозова, К. Н.