Cita APA (7th ed.)
Горлов М. И. & Сергеев В. А. (2020). Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий (3-е изд., доп. и перераб.). УлГТУ.
Cita Chicago (17th ed.)Горлов М. И. i Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. Ульяновск: УлГТУ, 2020.
Cita MLA (8th ed.)Горлов М. И. i Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. УлГТУ, 2020.
Atenció: Aquestes cites poden no estar 100% correctes.