APA-viite (7. p.)
Горлов М. И. & Сергеев В. А. (2020). Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий (3-е изд., доп. и перераб.). УлГТУ.
Chicago-viite (17. p.)Горлов М. И. ja Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. Ульяновск: УлГТУ, 2020.
MLA-viite (8. p.)Горлов М. И. ja Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. УлГТУ, 2020.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.