APA(7版)引用形式
Горлов М. И. & Сергеев В. А. (2020). Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий (3-е изд., доп. и перераб.). УлГТУ.
Chicagoスタイル(17版)引用形式Горлов М. И. , Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. Ульяновск: УлГТУ, 2020.
MLA(8版)引用形式Горлов М. И. , Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. УлГТУ, 2020.
警告: この引用は必ずしも正確ではありません.