Библиотечный поиск

APA (7. basım) Alıntı

Горлов М. И. & Сергеев В. А. (2020). Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий (3-е изд., доп. и перераб.). УлГТУ.

Chicago Style (17. basım) Atıf

Горлов М. И. ve Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. Ульяновск: УлГТУ, 2020.

MLA (8th ed.) Atıf

Горлов М. И. ve Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 3-е изд., доп. и перераб. УлГТУ, 2020.