Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | Книга |
| اللغة: | Russian |
| منشور في: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
| الطبعة: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| الملخص: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
|---|---|
| وصف مادي: | 470 с. |
| جمهور: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
| بيبلوغرافيا: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |