Neidio i'r cynnwys

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Disgrifiad llawn

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Горлов М. И.
Awduron Eraill: Сергеев В. А.
Fformat: Книга
Iaith:Russian
Cyhoeddwyd: Ульяновск УлГТУ 2020
Rhifyn:3-е изд., доп. и перераб.
Mynediad Ar-lein:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
Disgrifiad
Crynodeb:В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Disgrifiad Corfforoll:470 с.
Cynulleidfa:Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки
Llyfryddiaeth:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань