Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Wedi'i Gadw mewn:
Prif Awdur: | |
---|---|
Awduron Eraill: | |
Fformat: | Книга |
Iaith: | Russian |
Cyhoeddwyd: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Rhifyn: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Mynediad Ar-lein: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|
Crynodeb: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
---|---|
Disgrifiad Corfforoll: | 470 с. |
Cynulleidfa: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
Llyfryddiaeth: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |