Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Guardado en:
Autor principal: | |
---|---|
Otros Autores: | |
Formato: | Книга |
Lenguaje: | Russian |
Publicado: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Edición: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Acceso en línea: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Sumario: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
---|---|
Descripción Física: | 470 с. |
Público: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
Bibliografía: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |