Saltar al contenido

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Горлов М. И.
Otros Autores: Сергеев В. А.
Formato: Книга
Lenguaje:Russian
Publicado: Ульяновск УлГТУ 2020
Edición:3-е изд., доп. и перераб.
Acceso en línea:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Descripción
Sumario:В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Descripción Física:470 с.
Público:Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки
Bibliografía:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань