Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Spremljeno u:
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Daljnji autori: | |
| Format: | Книга |
| Jezik: | Russian |
| Izdano: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
| Izdanje: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| Online pristup: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|
| Sažetak: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
|---|---|
| Opis: | 470 с. |
| Publika: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
| Bibliografija: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |