Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Այլ հեղինակներ: | |
| Ձևաչափ: | Книга |
| Լեզու: | Russian |
| Հրապարակվել է: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
| Հրատարակություն: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| Առցանց հասանելիություն: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
| Ամփոփում: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
|---|---|
| Ֆիզիկական նկարագրություն: | 470 с. |
| Լսարան: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
| Մատենագիտություն: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |