Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Книга |
| Lingua: | Russian |
| Pubblicazione: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
| Edizione: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| Accesso online: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|
| Riassunto: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
|---|---|
| Descrizione fisica: | 470 с. |
| Pubblico: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
| Bibliografia: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |