Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Книга |
| Taal: | Russian |
| Gepubliceerd in: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
| Editie: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| Online toegang: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Samenvatting: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | 470 с. |
| publiek: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
| Bibliografie: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |