Přeskočit na obsah

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Горлов М. И.
Další autoři: Сергеев В. А.
Médium: Книга
Jazyk:Russian
Vydáno: Ульяновск УлГТУ 2020
Vydání:3-е изд., доп. и перераб.
On-line přístup:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
LEADER 02072nam0a2200277 i 4500
001 170654
003 RuSpLAN
005 20221220174124.0
008 221220s2020 ru gs 000 0 rus
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a 621.315.592+658.562.4 
084 |a 31.233+65.291.8  |2 rubbk 
245 0 0 |a Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий  |c Горлов М. И.,Сергеев В. А. 
250 |a 3-е изд., доп. и перераб. 
260 |a Ульяновск  |b УлГТУ  |c 2020 
300 |a 470 с. 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. 
521 8 |a Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки 
100 1 |a Горлов М. И. 
700 1 |a Сергеев В. А. 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/170654 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg