Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Горлов М. И. |
---|---|
অন্যান্য লেখক: | Сергеев В. А. |
বিন্যাস: | Книга |
ভাষা: | Russian |
প্রকাশিত: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
সংস্করন: | 3-е изд., доп. и перераб. |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
অনুযায়ী: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
প্রকাশিত: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
অনুযায়ী: Любимов И. В.
প্রকাশিত: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
অনুযায়ী: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
প্রকাশিত: (2012)