Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Guardat en:
Autor principal: | Горлов М. И. |
---|---|
Altres autors: | Сергеев В. А. |
Format: | Книга |
Idioma: | Russian |
Publicat: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Edició: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Accés en línia: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Ítems similars
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
per: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
Publicat: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
per: Любимов И. В.
Publicat: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
per: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
Publicat: (2012)