Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Горлов М. И. |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Сергеев В. А. |
Μορφή: | Книга |
Γλώσσα: | Russian |
Έκδοση: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Έκδοση: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Διαθέσιμο Online: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
ανά: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
Έκδοση: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
ανά: Любимов И. В.
Έκδοση: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
ανά: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
Έκδοση: (2012)