Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Tallennettuna:
Päätekijä: | Горлов М. И. |
---|---|
Muut tekijät: | Сергеев В. А. |
Aineistotyyppi: | Книга |
Kieli: | Russian |
Julkaistu: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Painos: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Linkit: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Samankaltaisia teoksia
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Tekijä: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
Julkaistu: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
Tekijä: Любимов И. В.
Julkaistu: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
Tekijä: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
Julkaistu: (2012)