Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Enregistré dans:
Auteur principal: | Горлов М. И. |
---|---|
Autres auteurs: | Сергеев В. А. |
Format: | Книга |
Langue: | Russian |
Publié: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Édition: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Accès en ligne: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
par: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
Publié: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
par: Любимов И. В.
Publié: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
par: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
Publié: (2012)