Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
保存先:
第一著者: | Горлов М. И. |
---|---|
その他の著者: | Сергеев В. А. |
フォーマット: | Книга |
言語: | Russian |
出版事項: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
版: | 3-е изд., доп. и перераб. |
オンライン・アクセス: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
類似資料
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
著者:: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
出版事項: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
著者:: Любимов И. В.
出版事項: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
著者:: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
出版事項: (2012)