Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Zapisane w:
1. autor: | Горлов М. И. |
---|---|
Kolejni autorzy: | Сергеев В. А. |
Format: | Книга |
Język: | Russian |
Wydane: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Wydanie: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Dostęp online: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Podobne zapisy
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
od: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
Wydane: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
od: Любимов И. В.
Wydane: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
od: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
Wydane: (2012)