Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Сохранить в:
Главный автор: | Горлов М. И. |
---|---|
Другие авторы: | Сергеев В. А. |
Формат: | Книга |
Язык: | Russian |
Опубликовано: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Редакция: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Online-ссылка: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Схожие документы
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Автор: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
Опубликовано: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
Автор: Любимов И. В.
Опубликовано: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
Автор: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
Опубликовано: (2012)