Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Збережено в:
Автор: | Горлов М. И. |
---|---|
Інші автори: | Сергеев В. А. |
Формат: | Книга |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Редагування: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Онлайн доступ: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
за авторством: Горлов, М. И. -
Методы контроля надежности и диагностики изделий учебно-методическое пособие
Опубліковано: (2021) -
Статистические методы контроля качества и надёжности технических систем учебное пособие
за авторством: Любимов И. В.
Опубліковано: (2022) -
Технология контроля качества производства швейных изделий учебное пособие
за авторством: Алахова, С. С. -
Физические основы методов неразрушающего контроля качества изделий
Опубліковано: (2012)