تخطي إلى المحتوى

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Горлов М. И.
مؤلفون آخرون: Сергеев В. А.
التنسيق: Книга
اللغة:Russian
منشور في: Ульяновск УлГТУ 2020
الطبعة:3-е изд., доп. и перераб.
الوصول للمادة أونلاين:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!