Anar al contingut

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Descripció completa

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Горлов М. И.
Altres autors: Сергеев В. А.
Format: Книга
Idioma:Russian
Publicat: Ульяновск УлГТУ 2020
Edició:3-е изд., доп. и перераб.
Accés en línia:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!