Пропуск в контексте

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Горлов М. И.
Andre forfattere: Сергеев В. А.
Format: Книга
Sprog:Russian
Udgivet: Ульяновск УлГТУ 2020
Udgivelse:3-е изд., доп. и перераб.
Online adgang:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!