Μετάβαση στο περιεχόμενο

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Горлов М. И.
Άλλοι συγγραφείς: Сергеев В. А.
Μορφή: Книга
Γλώσσα:Russian
Έκδοση: Ульяновск УлГТУ 2020
Έκδοση:3-е изд., доп. и перераб.
Διαθέσιμο Online:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!