Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Tallennettuna:
Päätekijä: | |
---|---|
Muut tekijät: | |
Aineistotyyppi: | Книга |
Kieli: | Russian |
Julkaistu: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Painos: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Linkit: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|