Siirry sisältöön

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Горлов М. И.
Muut tekijät: Сергеев В. А.
Aineistotyyppi: Книга
Kieli:Russian
Julkaistu: Ульяновск УлГТУ 2020
Painos:3-е изд., доп. и перераб.
Linkit:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!