Saltar ao contenido

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Горлов М. И.
Outros autores: Сергеев В. А.
Formato: Книга
Idioma:Russian
Publicado: Ульяновск УлГТУ 2020
Edición:3-е изд., доп. и перераб.
Acceso en liña:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Метки: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!