Անցեք բովանդակությանը

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Горлов М. И.
Այլ հեղինակներ: Сергеев В. А.
Ձևաչափ: Книга
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Ульяновск УлГТУ 2020
Հրատարակություն:3-е изд., доп. и перераб.
Առցանց հասանելիություն:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!