Salta al contenuto

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Descrizione completa

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Горлов М. И.
Altri autori: Сергеев В. А.
Natura: Книга
Lingua:Russian
Pubblicazione: Ульяновск УлГТУ 2020
Edizione:3-е изд., доп. и перераб.
Accesso online:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !