Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Shranjeno v:
| Glavni avtor: | |
|---|---|
| Drugi avtorji: | |
| Format: | Книга |
| Jezik: | Russian |
| Izdano: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
| Izdaja: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| Online dostop: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|