Chuyển đến nội dung

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Горлов М. И.
Tác giả khác: Сергеев В. А.
Định dạng: Книга
Ngôn ngữ:Russian
Được phát hành: Ульяновск УлГТУ 2020
Phiên bản:3-е изд., доп. и перераб.
Truy cập trực tuyến:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!