Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены опи...
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | , |
| Natura: | Книга |
| Lingua: | Russian |
| Pubblicazione: |
Санкт-Петербург
Лань
2021
|
| Edizione: | 2-е изд., стер. |
| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://e.lanbook.com/book/180818 https://e.lanbook.com/img/cover/book/180818.jpg |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|