Пропуск в контексте

Растровая электронная микроскопия учебное пособие

Учебное пособие содержит последовательное изложение физических основ растровой электронной микроскопии, принципиального устройства растрового электронного микроскопа и его функциональных элементов. Часть учебного пособия посвящена описанию микроскопа Jeol JSM-6490 и инструкции по его использованию в...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Сахаров Н. В.
Другие авторы: Фаддеев М. А.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2020
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/191820
https://e.lanbook.com/img/cover/book/191820.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Описание
Краткое описание:Учебное пособие содержит последовательное изложение физических основ растровой электронной микроскопии, принципиального устройства растрового электронного микроскопа и его функциональных элементов. Часть учебного пособия посвящена описанию микроскопа Jeol JSM-6490 и инструкции по его использованию в научных исследованиях. Важная дополнительная информация оформлена в виде отдельных приложений. Данное учебное пособие предназначено для студентов физических факультетов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния и физического материаловедения.
Примечание:Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки: 03.03.02 «Физика» и 03.04.02 «Физика»
Объем:96 с.
Аудитория:Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Физика
Библиография:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань