Анализ микроскопических изображений объектов микроэлектроники в программном пакете Image Pro Plus учебно-методическое пособие
Рассмотрено применение метода анализа изображений для исследования морфологии и кристаллического строения тонких пленок кремнезема, полученных золь-гель методом. Разработано к дисциплинам «Микро- и нанотехнологии» магистерской программы направления 11.04.03 (211000.68) и «Конструирование и технологи...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Книга |
| Γλώσσα: | Russian |
| Έκδοση: |
Казань
КНИТУ-КАИ
2018
|
| Διαθέσιμο Online: | https://e.lanbook.com/book/193492 https://e.lanbook.com/img/cover/book/193492.jpg |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Περίληψη: | Рассмотрено применение метода анализа изображений для исследования морфологии и кристаллического строения тонких пленок кремнезема, полученных золь-гель методом. Разработано к дисциплинам «Микро- и нанотехнологии» магистерской программы направления 11.04.03 (211000.68) и «Конструирование и технология электронных средств» по магистерской программе «Информационные технологии проектирования электронно-вычислительных средств». Может быть использовано студентами при выполнении учебноисследовательских, курсовых и дипломных работ. |
|---|---|
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Рекомендовано к изданию Учебно-методическим управлением КНИТУ-КАИ |
| Φυσική περιγραφή: | 68 с. |
| Κοινό: | Книга из коллекции КНИТУ-КАИ - Инженерно-технические науки |
| Βιβλιογραφία: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |
| ISBN: | 978-5-7579-2304-8 |