Анализ микроскопических изображений объектов микроэлектроники в программном пакете Image Pro Plus учебно-методическое пособие
Рассмотрено применение метода анализа изображений для исследования морфологии и кристаллического строения тонких пленок кремнезема, полученных золь-гель методом. Разработано к дисциплинам «Микро- и нанотехнологии» магистерской программы направления 11.04.03 (211000.68) и «Конструирование и технологи...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Опубликовано: |
Казань
КНИТУ-КАИ
2018
|
| Online-ссылка: | https://e.lanbook.com/book/193492 https://e.lanbook.com/img/cover/book/193492.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Краткое описание: | Рассмотрено применение метода анализа изображений для исследования морфологии и кристаллического строения тонких пленок кремнезема, полученных золь-гель методом. Разработано к дисциплинам «Микро- и нанотехнологии» магистерской программы направления 11.04.03 (211000.68) и «Конструирование и технология электронных средств» по магистерской программе «Информационные технологии проектирования электронно-вычислительных средств». Может быть использовано студентами при выполнении учебноисследовательских, курсовых и дипломных работ. |
|---|---|
| Примечание: | Рекомендовано к изданию Учебно-методическим управлением КНИТУ-КАИ |
| Объем: | 68 с. |
| Аудитория: | Книга из коллекции КНИТУ-КАИ - Инженерно-технические науки |
| Библиография: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |
| ISBN: | 978-5-7579-2304-8 |