Анализ микроскопических изображений объектов микроэлектроники в программном пакете Image Pro Plus учебно-методическое пособие
Рассмотрено применение метода анализа изображений для исследования морфологии и кристаллического строения тонких пленок кремнезема, полученных золь-гель методом. Разработано к дисциплинам «Микро- и нанотехнологии» магистерской программы направления 11.04.03 (211000.68) и «Конструирование и технологи...
Сохранить в:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Книга |
| Sprog: | Russian |
| Udgivet: |
Казань
КНИТУ-КАИ
2018
|
| Online adgang: | https://e.lanbook.com/book/193492 https://e.lanbook.com/img/cover/book/193492.jpg |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|