Анализ микроскопических изображений объектов микроэлектроники в программном пакете Image Pro Plus учебно-методическое пособие
Рассмотрено применение метода анализа изображений для исследования морфологии и кристаллического строения тонких пленок кремнезема, полученных золь-гель методом. Разработано к дисциплинам «Микро- и нанотехнологии» магистерской программы направления 11.04.03 (211000.68) и «Конструирование и технологи...
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Книга |
| Lingua: | Russian |
| Pubblicazione: |
Казань
КНИТУ-КАИ
2018
|
| Accesso online: | https://e.lanbook.com/book/193492 https://e.lanbook.com/img/cover/book/193492.jpg |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|