Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие Ч. 1 Методы локального анализа иэлектронная микроскопия
Необходимость развития новейших технологий обусловила актуальность методованализа поверхности и межфазных границ (внутренних поверхностей). Роль анализаповерхности и межфазных границ в современной аналитической химии велика, поскольку онпозволяет получить информацию о фундаментальных химических проц...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Опубликовано: |
Москва
РТУ МИРЭА
2021
|
| Online-ссылка: | https://e.lanbook.com/book/218654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/218654.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Краткое описание: | Необходимость развития новейших технологий обусловила актуальность методованализа поверхности и межфазных границ (внутренних поверхностей). Роль анализаповерхности и межфазных границ в современной аналитической химии велика, поскольку онпозволяет получить информацию о фундаментальных химических процессах, происходящихна поверхности: коррозии, адсорбции, хемосорбции, окислении, пассивации, диффузии,сегрегации, а также о реакционной способности веществ. В настоящее время для анализаповерхности и межфазных границ реально используют более 30 методов, около 15 из нихсчитаются основными. Наиболее значимыми методами, широко используемыми впромышленности, являются рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электроннаяоже-спектроскопия, масс-спектрометрия вторичных ионов и спектроскопиярезерфордовского обратного рассеяния, используемые для анализа состава поверхности;растровая электронная микроскопия для исследования морфологии поверхности,аналитическая электронная микроскопия для анализа межфазных границ, ИК- и КР-спектроскопия для молекулярного поверхностного и межфазного анализа. Соответствующаягруппа методов исследования получила название «методы локального анализа и анализаповерхности» (МЛААП). В учебном пособии наиболее подробно изложеныэкспериментальные и теоретические основы электронной микроскопии – одного из наиболеевостребованных инструментальных методов исследования и анализа.Предназначено для магистров направлений подготовки 04.04.01 Химия и 18.04.01Химическая технология, аспирантов 04.06.01 Химические науки, специализирующихся вобласти аналитической, физической химии и 22.06.01 Технологии материалов.Учебное пособие издается в авторской редакции |
|---|---|
| Объем: | 49 с. |
| Аудитория: | Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Химия |
| Библиография: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |