Пропуск в контексте

Физическая надежность электроники

Обычно при рассмотрении словосочетания «надежность электроники» подразумевают статистический подход, то есть расчет надежности через показатели интенсивности отказов. В книге сделана попытка рассмотреть вопросы надежности электронных устройств с точки зрения физических принципов ее обеспечения, как...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Васильев Ф. В.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Москва МАИ 2022
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/344012
https://e.lanbook.com/img/cover/book/344012.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Описание
Краткое описание:Обычно при рассмотрении словосочетания «надежность электроники» подразумевают статистический подход, то есть расчет надежности через показатели интенсивности отказов. В книге сделана попытка рассмотреть вопросы надежности электронных устройств с точки зрения физических принципов ее обеспечения, как конструктивных, так и технологических, обобщить имеющиеся и сформулировать новые данные в этой области. Книга может быть интересна исследователям, занимающимся вопросами проектирования и производства электронных устройств и исследующим их надежность.
Объем:159 с.
Аудитория:Книга из коллекции МАИ - Инженерно-технические науки
СЭБ
Библиография:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань
ISBN:978-5-4316-0947-3