Пропуск в контексте

Физическая надежность электроники

Обычно при рассмотрении словосочетания «надежность электроники» подразумевают статистический подход, то есть расчет надежности через показатели интенсивности отказов. В книге сделана попытка рассмотреть вопросы надежности электронных устройств с точки зрения физических принципов ее обеспечения, как...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Васильев Ф. В.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Москва МАИ 2022
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/344012
https://e.lanbook.com/img/cover/book/344012.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 01933nam0a2200253 i 4500
001 344012
003 RuSpLAN
005 20240216150945.0
008 240216s2022 ru gs 000 0 rus
020 |a 978-5-4316-0947-3 
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
245 0 0 |a Физическая надежность электроники  |c Васильев Ф. В. 
260 |a Москва  |b МАИ  |c 2022 
300 |a 159 с. 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a Обычно при рассмотрении словосочетания «надежность электроники» подразумевают статистический подход, то есть расчет надежности через показатели интенсивности отказов. В книге сделана попытка рассмотреть вопросы надежности электронных устройств с точки зрения физических принципов ее обеспечения, как конструктивных, так и технологических, обобщить имеющиеся и сформулировать новые данные в этой области. Книга может быть интересна исследователям, занимающимся вопросами проектирования и производства электронных устройств и исследующим их надежность. 
521 8 |a Книга из коллекции МАИ - Инженерно-технические науки 
521 8 |a СЭБ 
100 1 |a Васильев Ф. В. 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/344012 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/344012.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/344012.jpg