Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Данная лабораторная работа является работой начального уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Выполняется после проведения лабораторной работы нач...
Gorde:
Egile nagusia: | Круглов А. В. |
---|---|
Formatua: | Книга |
Hizkuntza: | Russian |
Argitaratua: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2022
|
Sarrera elektronikoa: | https://e.lanbook.com/book/344573 https://e.lanbook.com/img/cover/book/344573.jpg |
Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
Antzeko izenburuak
-
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
nork: Волкова Е. В.
Argitaratua: (2014) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
nork: Елманов Г. Н.
Argitaratua: (2011) -
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
nork: Круглов А. В.
Argitaratua: (2022) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
nork: Кузнецова Ю. В.
Argitaratua: (2023) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
nork: Кузнецова, Ю. В.