Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Данная лабораторная работа является работой начального уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Выполняется после проведения лабораторной работы нач...
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Круглов А. В. |
---|---|
Ձևաչափ: | Книга |
Լեզու: | Russian |
Հրապարակվել է: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2022
|
Առցանց հասանելիություն: | https://e.lanbook.com/book/344573 https://e.lanbook.com/img/cover/book/344573.jpg |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
: Волкова Е. В.
Հրապարակվել է: (2014) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
: Елманов Г. Н.
Հրապարակվել է: (2011) -
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
: Круглов А. В.
Հրապարակվել է: (2022) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
: Кузнецова Ю. В.
Հրապարակվել է: (2023) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
: Кузнецова, Ю. В.