Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Данная лабораторная работа является работой начального уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Выполняется после проведения лабораторной работы нач...
保存先:
第一著者: | Круглов А. В. |
---|---|
フォーマット: | Книга |
言語: | Russian |
出版事項: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2022
|
オンライン・アクセス: | https://e.lanbook.com/book/344573 https://e.lanbook.com/img/cover/book/344573.jpg |
タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
類似資料
-
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
著者:: Волкова Е. В.
出版事項: (2014) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
著者:: Елманов Г. Н.
出版事項: (2011) -
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
著者:: Круглов А. В.
出版事項: (2022) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
著者:: Кузнецова Ю. В.
出版事項: (2023) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
著者:: Кузнецова, Ю. В.