Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Данная лабораторная работа является работой начального уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Выполняется после проведения лабораторной работы нач...
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Круглов А. В. |
---|---|
Định dạng: | Книга |
Ngôn ngữ: | Russian |
Được phát hành: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2022
|
Truy cập trực tuyến: | https://e.lanbook.com/book/344573 https://e.lanbook.com/img/cover/book/344573.jpg |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
-
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
Bằng: Волкова Е. В.
Được phát hành: (2014) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Bằng: Елманов Г. Н.
Được phát hành: (2011) -
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Bằng: Круглов А. В.
Được phát hành: (2022) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
Bằng: Кузнецова Ю. В.
Được phát hành: (2023) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
Bằng: Кузнецова, Ю. В.