Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки...
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Книга |
| Taal: | Russian |
| Gepubliceerd in: |
Тверь
ТвГУ
2023
|
| Online toegang: | https://e.lanbook.com/book/415544 https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Samenvatting: | Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для исследования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата. |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | 96 с. |
| publiek: | Книга из коллекции ТвГУ - Физика СЭБ |
| Bibliografie: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |
| ISBN: | 978-5-7609-1838-3 |