Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки...
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Книга |
| Lingua: | Russian |
| Pubblicazione: |
Тверь
ТвГУ
2023
|
| Accesso online: | https://e.lanbook.com/book/415544 https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|
| Riassunto: | Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для исследования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата. |
|---|---|
| Descrizione fisica: | 96 с. |
| Pubblico: | Книга из коллекции ТвГУ - Физика СЭБ |
| Bibliografia: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |
| ISBN: | 978-5-7609-1838-3 |