Пропуск в контексте

Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие

Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Кузнецова Ю. В.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Тверь ТвГУ 2023
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/415544
https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 02166nam0a2200277 i 4500
001 415544
003 RuSpLAN
005 20240624113301.0
008 240624s2023 ru gs 000 0 rus
020 |a 978-5-7609-1838-3 
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a В338я73 
084 |a 537.8(075.8)  |2 rubbk 
245 0 0 |a Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе  |b учебное пособие  |c Кузнецова Ю. В. 
260 |a Тверь  |b ТвГУ  |c 2023 
300 |a 96 с. 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для исследования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата. 
521 8 |a Книга из коллекции ТвГУ - Физика 
521 8 |a СЭБ 
100 1 |a Кузнецова Ю. В. 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/415544 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg