Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии учебное пособие
В пособии представлены важнейшие разделы и особенности современного метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в анализе наночастиц и наноматериалов. Изложены теоретические основы метода, метрологические характеристики, многообразные применения метода, включающие анализ функциональных матери...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , , |
| Médium: | Книга |
| Jazyk: | Russian |
| Vydáno: |
Москва
РТУ МИРЭА
2024
|
| On-line přístup: | https://e.lanbook.com/book/421019 https://e.lanbook.com/img/cover/book/421019.jpg |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Shrnutí: | В пособии представлены важнейшие разделы и особенности современного метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в анализе наночастиц и наноматериалов. Изложены теоретические основы метода, метрологические характеристики, многообразные применения метода, включающие анализ функциональных материалов. Рассмотрены основы качественного, количественного анализа и определения валентных состояний, производственный аналитический контроль. Представлены разработки современных приборов и аналитических систем рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Предназначено для магистров направления подготовки 04.04.01 Химия при изучении дисциплины «Инструментальные методы анализа и исследования наноматериалов», аспирантов направления 04.06.01 Химические науки, специализирующихся в области аналитической, физической химии, и направления 22.06.01 Технологии материалов. |
|---|---|
| Fyzický popis: | 81 с. |
| Uživatelské určení: | Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Информатика СЭБ |
| Bibliografie: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |
| ISBN: | 978-5-7339-2160-0 |